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紅外熱像儀在檢測(cè)LED中的應(yīng)用

更新時(shí)間:2017-01-16   點(diǎn)擊次數(shù):1076次
 

紅外熱像儀在LED檢測(cè)中的應(yīng)用

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LED作為取代傳統(tǒng)照明工具(如白熾燈、鹵素?zé)舻?的新型光源,其散熱效果嚴(yán)重影響LED的實(shí)際使用壽命,散熱工藝成為L(zhǎng)ED應(yīng)用和發(fā)展的關(guān)鍵因素,紅外熱像儀可以進(jìn)行LED溫度檢測(cè),幫助驗(yàn)證散熱工藝。 

事實(shí)上,LED的實(shí)際壽命與工作溫度往往成反比,如LED使用壽命在工作溫度為74℃為10000小時(shí)、63℃為25000小時(shí),小于50℃時(shí),則可為50000小時(shí)。根本原因是LED的光電轉(zhuǎn)換效率極差,大約只有15%至20%左右電能轉(zhuǎn)為光輸出,其余均轉(zhuǎn)換成為熱能,因此,當(dāng)大量使用高功率的LED于一塊模組,應(yīng)用于高亮度的操作時(shí),這些極差的轉(zhuǎn)換效率將造成散熱處理的大問(wèn)題。 

熱像儀不僅在研發(fā)過(guò)程中能夠發(fā)揮作用,而且也可以應(yīng)用在產(chǎn)品的品質(zhì)管理等方面。 

1、研發(fā):主要是對(duì)LED模塊驅(qū)動(dòng)電路(包括電源)、光源半導(dǎo)體發(fā)熱分布分析、及光衰測(cè)試等。 

a)LED模塊驅(qū)動(dòng)電路 

在LED產(chǎn)品研發(fā)中,需要工程師進(jìn)行一部分驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì),例如整流器電路模塊。利用熱像儀,工程師可以迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處,便于完善電路設(shè)計(jì)。 

b)LED光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱 

利用熱像儀,工程師可以通過(guò)光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱紅外熱圖,分析出其芯片在工作時(shí)的溫度,以及溫度的分布情況,在此基礎(chǔ),達(dá)到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。 

c)光衰試驗(yàn) 

LED產(chǎn)品的光衰就是光在傳輸中的信號(hào)減弱,而現(xiàn)階段的LED大廠們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同,大功率LED同樣存在光衰,這和溫度有著直接的關(guān)系,主要是由晶片、熒光粉和封裝技術(shù)決定的。目前,市場(chǎng)上的白光LED其光衰可能是向民用照明進(jìn)軍的首要問(wèn)題之一。 

2、品質(zhì)管理 

a)半導(dǎo)體照明:吹制燈泡均勻性 

通過(guò)熱像儀抓拍產(chǎn)線玻璃吹泡的過(guò)程,進(jìn)行參數(shù)修正,改善掐口工藝,可以有效提高產(chǎn)品成品率,降低成本。 

b)LED檢測(cè)芯片封裝前的溫度 

LED芯片封裝前檢測(cè)溫度可以避免封裝后因溫度異常,降低廢品率。此階段手不能接觸表面,熱像儀能夠很好的幫助客戶發(fā)現(xiàn)此處的問(wèn)題,作為流水線檢測(cè)工具。 

c)LED成品顯示屏開(kāi)機(jī)測(cè)試 

LED顯示屏完成后,要做zui后驗(yàn)收,通過(guò)不同顏色的測(cè)試來(lái)看屏幕是否符合交貨的要求,目前大多數(shù)企業(yè)都沒(méi)有這個(gè)流程。使用熱像儀后,能夠?yàn)閺S家完善產(chǎn)品檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),提高產(chǎn)品質(zhì)量。 

紅外熱像儀的*作用 

在使用熱像儀前,LED產(chǎn)品企業(yè)一直都沒(méi)有很好的解決這個(gè)問(wèn)題手段或方法。熱像儀能夠發(fā)揮*作用:

1、通過(guò)紅外線熱像儀檢測(cè)目標(biāo)時(shí),不需要斷電,操作方便,同時(shí)非接觸測(cè)量使原有的溫度場(chǎng)不受干擾;反應(yīng)速度較快,小于1毫秒。 

2、*時(shí)間識(shí)別和定位故 

使用熱像儀進(jìn)行拍攝時(shí),若要得到一幅的紅外熱圖,我們建議: 

1、需要分辨較小溫差的場(chǎng)合,盡量選擇熱靈敏度較高的熱像儀; 

2、先用自動(dòng)模式測(cè)量溫度范圍;然后手動(dòng)設(shè)置水平及跨度,將溫度范圍設(shè)置在zui小,并包含有先前測(cè)量的溫度范圍。